偏光顯微鏡是一種特殊的顯微鏡，利用兩個偏振鏡從標本中獲得一定的光學數(shù)據(jù)。偏光顯微鏡被廣泛應用于光學礦物學支持地質，石棉測試和法醫(yī)學等應用領域。往往是那些在不同領域的工作,顯微鏡，有時會是指由不同的名稱，如顯微鏡地質,工具顯微鏡，巖相顯微鏡，顯微鏡POL，和PLM(偏光顯微鏡偏光顯微鏡)。

偏光顯微鏡和一個標準的復合顯微鏡之間的主要區(qū)別是增加一個固定偏振片之間的光源和試樣和另外一個客觀和目鏡之間可調偏光鏡。第二偏光片被稱為“分析儀”，通常可以插入一個旋轉的部分，在顯微鏡的脖子。其他常見的配件包括一個旋轉舞臺和插入遲緩石膏或石英制成的板材。

有了這些額外的元素，偏光顯微鏡，這種顯微鏡可以從一個標本，沒有其他的顯微鏡可以獲取的光學數(shù)據(jù)。關鍵的光學信息，包括折射率，雙折射，伸長的跡象，多色，消光角，所有這些都提供了線索正在調查材料的晶體。