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薄膜干涉在檢查光學(xué)元件表面時(shí)應(yīng)...

發(fā)布時(shí)間 2012.12.22

根據(jù)對(duì)條紋形狀的分析，我們可以得知被檢表面存在的缺陷，從而在此基礎(chǔ)上進(jìn)行相應(yīng)的磨制，最終達(dá)到我們所需...

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